阅读历史 |

第七百二十四章 调试测验 (第2/2页)

加入书签

。刘焱、乌光辉、姜安平等高管和研发人员,开始动手对这批芯片进行全面测试。

半小时后,所有芯片测试完成,姜安平对测试结果进行了汇总,最后宣布道:

“此次我们自主研发的一微米光刻机测试,共选用了35片硅晶圆,加工过后,切割封装成1750枚芯片。

经过全面测试,合格产品共1203枚,合格率为68.7%。

也就是说,咱们光刻机研发实验室生产的第一台一微米光刻机,第一次开机测试生产,就成功了,并且合格率已经达到了晶圆工厂内现有几台J能和n康光刻机的加工水平。”

听完姜安平的发言,刘焱带头鼓掌,其他维创电子告诉的高管和研发人员,以及其他负责封装测试的员工紧随其后,现场爆发出一阵热烈的掌声。

在场观摩的维创电子公司员工们都在七嘴八舌的讨论着:

↑返回顶部↑

书页/目录